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Escaneo en el Lugar
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Duplicado Digital Preciso
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Ángulo Ilimitado
Application: |
Temperature Measurment & Optics Applying |
Conductivity Type: |
All |
Purity: |
All |
Type: |
Silicon Wafer Substrate |
Substrate: |
Monocrystalline Silicon |
Focal Length: |
+-2% @10.6um |
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