Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Velocidad Hem6000

• Garantía: 1 años
• Aumento: >1000X
• Tipo: Estereomicroscopio
• No. de Modelo.: HEM6000
• Número de cilindros: Binoculares
• Movilidad: Sobremesa
• Efecto estereoscópico: Sin efecto estereoscópico
• Tipo de fuente de luz: Luz Ordinario
• Forma: Prisma Rectangular
• Uso: Investigación
• Principio: Óptico
• Principio de Óptica: Microscopio de contraste de fase
• resolution1: 1,5 nm a 1 kv se
• resolution2: 1,5 nm a 1 kv se
• resolution3: 1,5 nm a 15 kv bse
• tensión de aceleración: 0,1 kv~6 kv (modo de desaceleración)
• aceleración voltage1: 6 kv~30 kv (modo sin decel)
• aceleración voltage2: 6 kv~30 kv (modo sin decel)
• Paquete de Transporte: embalaje de madera
• Especificación: 1,5 metros cúbicos
• Origen: China
• Código del HS: 9012100000
• Capacidad de Producción: 10000/ año

Descripción de Producto

Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad | HEM6000

Productos de Paramentadores:
    

Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para imágenes a escala cruzada de   muestras de gran volumen

 

CIQTEK HEM6000  ofrece tecnologías como el cañón de electrones de gran corriente de gran brillo, el sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la fase de muestreo de alto voltaje, el eje óptico dinámico y la lente de objetivo combinado electrostático y electromagnético de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad y garantizar al mismo tiempo una resolución a nanoescala.

El proceso de funcionamiento automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de área grande más eficiente e inteligente. La velocidad de adquisición de imágenes puede alcanzar 5 veces más rápido que un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo convencional (FESEM).

 
Especialidades de producto
 

CIQTEK microscopio SEM de alta velocidad HEM6000 Especificaciones		HEM6000-Semi	HEM6000-Bio	HEM6000-Lite
Óptica de electrones	Resolución	1,5 nm a 1 kV se	1,8 nm a 1 kV BSE	1,5 nm a 15 kV BSE
	Tensión de aceleración	0,1 kv~6 kV (modo de desaceleración)	6 kV~30 kV (modo de decel ninguno)	6 kV~30 kV
	Ampliación	66~1.000.000x
	Pistola de electrones	Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
	Tipo de lente objetivo	Lente de objetivo combinado electrostático y electromagnético de inmersión
	Deflector electrostático	Cinco etapas	Cuatro etapas	Cuatro etapas
Sistema de carga de muestras	Sistema de vacío	Sistema de vacío totalmente automático exento de aceite
	Monitorización de muestras	Cámara de control de cámara principal horizontal; cámara de control de cámara de bloqueo de carga de intercambio de muestras vertical
	Tamaño máximo de muestra	4 pulgadas de diámetro
	Tipo de etapa de la muestra	Platina motorizada de 3 ejes para muestras (*plataforma opcional accionada por piezoeléctrico)
	Desplazamiento de la plataforma de especímenes	X, y: 110 mm; Z: 16 mm
	Repetibilidad de la etapa de la muestra	X:±0,6 μm; y:±0,3 μm
	Intercambio de muestras	Totalmente automático
	Duración de intercambio de muestras	<15 minutos
	Limpieza de la cámara de bloqueo de carga	Sistema de limpieza por plasma totalmente automático
Adquisición y procesamiento de imágenes	Tiempo de permanencia	10 ns/pixel
	Velocidad de adquisición	2*100 M pixel/s
	Tamaño de imagen	16 K*16 K
Detector y accesorios	Detector de electrones retrodispersados retractable de ángulo bajo	Opcional	Ninguno	Estándar
	Detector de electrones retrodispersados de ángulo bajo, montado en la parte inferior	Opcional	Estándar	Ninguno
	Detector de electrones en columna	Estándar	Opcional	Opcional
	Detector de electrones retrodispersados de ángulo alto en columna	Opcional	Opcional	Opcional
	Etapa de especímenes accionada piezoeléctrica	Opcional	Opcional	Opcional
	Modo de FOV grande de alta resolución (SW)	Opcional	Ninguno	Ninguno
	Sistema de limpieza por plasma de la cámara de Loadlock	Opcional	Opcional	Opcional
	Sistema de carga de muestras de 6 pulgadas	Opcional	Opcional	Opcional
	Plataforma antivibración activa	Opcional	Opcional	Opcional
	Reducción de ruido al; cosido de campo de área grande; 3D Reconstrucción	Opcional	Opcional	Opcional
Interfaz de usuario	Idioma	Inglés
	SO	Ventanas
	Navegación	Navegación óptica, navegación por gestos
	Función automática	Reconocimiento automático de muestras, selección automática del área de obtención de imágenes, brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmator automático

Ventajas del producto

 

HEM6000-Semi	HEM6000-Bio	HEM6000-lit
Baja tensión y alta resolución	Baja tensión y alta resolución	Funcionamiento simplificado
Gran campo de visión	Varios algoritmos automatizados para el campo biológico	Abundantes opciones de selección
Algoritmos especialmente optimizados para una alineación sencilla de muestras altamente repetitivas	Detector BSE optimizado para aplicaciones biológicas	Flujo de trabajo automatizado de alta velocidad
Deflexión electrostática de cinco etapas	Sistema de reconstrucción biológica 3D

 LO MÁS DESTACADO

• Automatización de alta velocidad

  Proceso de carga y descarga de muestras totalmente automático y operación de adquisición de imágenes, lo que hace que la velocidad de adquisición de imágenes global sea 5 veces más rápida que la de FESEM convencional

 

• Gran campo de visión

  Tecnología que desplaza dinámicamente el eje óptico de acuerdo con el rango de deflexión de barrido, logra una distorsión mínima del borde

• Distorsión de imagen baja

  La tecnología de desaceleración en tándem de la plataforma de muestras permite un bajo nivel de energía de aterrizaje, al tiempo que se obtienen imágenes de alta resolución

 

GALERÍA DE IMÁGENES

HISTORIAS DE CLIENTES         

 CIQTEK SEM Microscope SEM3200 en la Universidad de Loughborough, Reino Unido        SEM microscopio SEM3200 en la Universidad de Monterrey, México

 Microscopio SEM SEM3200 de CIQTEK en el Centro de pruebas de GSEM, Corea          CIQTEK SEM Microscope SEM3200 FAQ de usuario por Scimed, Reino Unido