| Personalización: | Disponible |
|---|---|
| Garantía: | 1 años |
| frecuencia de muestreo bits: | 125MHz/12bits |
Proveedores con licencias comerciales verificadas
Auditado por una agencia de inspección externa independiente
Integra a-scan, B-scan, TOFD, imágenes de onda guiada y otras funciones
Tecnología de enfoque de apertura sintética (SAFT) exclusiva
El modelo de proceso de inspección in situ integrado genera automáticamente el proceso de inspección
El escáner portátil y el dispositivo de escaneo automático sustituyen el escaneo manual a. cumplir con los distintos requisitos de inspección de piezas
A-scan: La pantalla de RF mejora la capacidad del instrumento para evaluar patrones de defectos en materiales
Imágenes B-scan: Visualización en tiempo real de la forma transversal defectuosa
Imágenes de exploración TOFD: Visualización en tiempo real de la exploración de escala de grises defectuosa
Figura, muestra los defectos de forma intuitiva y evalúa la calidad de los defectos
La detección de TOFD y PE multicanal cubren completamente el escaneo de particiones con un grosor de 200mm, ampliable a 400mm
Eliminación de ondas: Herramienta de procesamiento especial para defectos cercanos a la superficie para mejorar la precisión del análisis de defectos cercanos a la superficie
Ajuste horizontal y vertical: Para cumplir con diferentes hábitos de funcionamiento in situ
SAFT: Función reconocida internacionalmente para mejorar de forma efectiva la precisión de la medición de defectos
Software del instrumento: Tiene función SAFT (enfoque de apertura sintética) y función de enderezado diferencial a través de la onda
Software de análisis fuera de línea: Tiene función de procesamiento SAFT (enfoque de apertura sintética), tiene la misma función de visualización de comparación de pantalla antes y después del procesamiento de imágenes, y tiene la función de convertir directamente imágenes TOFD en mapas de bits BMP
Análisis de imágenes sin conexión: Restaurar y reproducir la forma de onda DE la exploración A registrada durante la exploración; análisis estadístico del tamaño del defecto y los datos de grosor/amplitud del contorno; conversión de registros a informes en formato ASCI/MSWord/MS Excel
| Parámetros de transmisión | |||
| Tipo de pulso | Pulso de onda cuadrada negativo | Ancho de pulso | 40ns-1000ns ajustable continuamente (8ns pasos) |
| Sondas que pueden conectarse simultáneamente | 10 | Coincidencia de impedancia | 25Ω,500Ω |
| Pulse delante | <10 ns | ||
| Recibiendo parámetros | |||
| Frecuencia de muestreo/bits | 125MHz/12bits | Rango de exploración | Incidencia de interfaz cero-14000mm onda longitudinal de acero |
| Profundidad de muestreo | 512/1024 ajustable | Rango de velocidad del sonido | (300-20000)m/s |
| Frecuencia de repetición | 100Hz-800Hz ajustable | Rango dinámico | ≥30dB |
| Precisión del atenuador | <1dB/12dB | Error lineal vertical | ≤3% |
| Error lineal horizontal | ≤0,3% | ||
| Rendimiento integral | |||
| Resolución | >30dB | Margen de sensibilidad | >52dB(Φ2x200mm) |
| Método de detección | Detección completa, detección positiva, detección negativa, RF | Promedio de forma de onda | 1-8 ajustable |
| Modo de imagen | Una exploración, una exploración B, una exploración C. | Longitud de adquisición lineal | (0-40000) mm desplazamiento automático |
| Parámetros del instrumento | |||
| Tamaño total | 248 x 180 x 80 (mm) | Peso de la máquina | 2,4kg (batería incluida) |
| Tamaño de pantalla de visualización | 6,5'' | Resolución de pantalla | 640 x 480 |
| Interacción humano-computadora | Teclado, lanzadera | SSD | 8 GB |
| Interfaz | LAN, USB2,0.VGA | Fuente de alimentación, batería | DC (DC12V/2A), batería 11,1V/6600mAh |
| Temperatura de trabajo | (-10-40) °C (valor de referencia) | Humedad relativa | (20-95)% HR |
| Inspección de fábrica | Se proporcionó un informe de inspección estándar europeo | ||

