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AL-Y500 Difractómetro de rayos X bidimensional Análisis de estructura de cristal Prueba de DRX Máquina
Descripción
El difractómetro AL-Y500 es el último modelo de difractómetro bidimensional de rayos X de sobremesa lanzado por Langshuo. Adopta un método de detección de cámara fija, que es diferente de los difractómetros tradicionales de tipo escáner. El detector semiconductor de recuento de fotones de tipo de matriz de rayos X permite modos de compatibilidad de 0D, 1D y 2D para puntos, líneas y superficies.
Se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de muestras policristalinas, incluyendo análisis cuantitativo sin muestras de referencia, determinación de cristalinidad, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de material, medición de tamaño de grano, Refinamiento de estructuras, análisis de micro-áreas, análisis de estrés de textura y película fina, etc. es aplicable a diversos campos e industrias como minerales, productos farmacéuticos, químicos, metales y aleaciones, materiales de construcción, nanomateriales, baterías, muestras de alimentos, muestras biológicas, etc.
Características
1.el detector realiza fotografías fijas, que es diferente del instrumento de difracción de tipo de barrido tradicional. El modo de fotografía es muy eficiente y rápido, aproximadamente 5-30 veces más rápido que el modo de escaneo. Es adecuado para análisis in situ, y la información de difracción desde todos los ángulos puede ser recogida simultáneamente. Tiene una alta resolución energética, reduciendo de forma efectiva el fondo de fluorescencia.
2.los brazos θs y θd del instrumento de medición de ángulos adoptan la tecnología de control de la codificación óptica y la transmisión de servomotor. El detector puede realizar un movimiento de doble posición a lo largo del eje 2θ. La rotación del instrumento de medición del ángulo es más estable, la medición del ángulo de difracción es más precisa y la linealidad es mejor. Cuando la muestra gira a lo largo del eje θ, la precisión de control es de 0,01° y la precisión del ángulo del eje 2θ es de ±0,02°.
3.los componentes del detector están compuestos por múltiples unidades de detector, que están uniformemente distribuidas a lo largo del círculo de difracción y proporcionan una cobertura perfecta para todos los ángulos; los detectores de matriz plana de doble capa de 21 placas (o de una sola capa de 10 placas) cubren el rango de 2θ: -3° a 150°. 2D se logra la obtención de imágenes, recogiendo simultáneamente información γ ángulo, datos de difracción bidimensional, y la información es más abundante.
4.Detector semiconductor de recuento fotónico plano de rayos X, con alta sensibilidad, capaz de contar fotón único, amplio rango dinámico, umbrales duales; fuentes de luz de punto y línea intercambiables, combinando geometrías ópticas Debye-Scherrer y BB, compatibles con muestras planas y cilíndricas, compatibles con los modos detector 2D, 1D y OD. Además, tiene una fuerte resistencia a la radiación y una larga vida útil.
5.el dispositivo de protección contra la radiación de dispersión es más seguro y fiable. Durante la medición de la muestra, la puerta de protección contra la radiación se bloqueará automáticamente, lo que garantiza que los operadores no estarán expuestos a la radiación dispersa bajo ninguna circunstancia.
6.el tamaño compacto permite su instalación en un banco experimental, sin necesidad de un entorno de laboratorio específico. Es fácil de usar, operar y mantener.
AL-Y500 Difractómetro de rayos X bidimensional Análisis de estructura de cristal Prueba de DRX Máquina
Parámetro de producto
| Modelo | AL-Y500 |
| Potencia de funcionamiento | 600W |
| Voltaje del tubo | 15 - 40kV, 1kV/Paso |
| Corriente del tubo | 5 - 15mA, 1mA/Paso |
| Tubo de rayos X. | Tubo cerámico metálico, objetivo de cobre (material objetivo opcional) |
| Tamaño de punto focal | 0,41×10mm/1×10mm (punto/línea intercambiable) |
| Estabilidad de la tensión del tubo y la corriente del tubo | ≤0,01% (fluctuación de tensión de alimentación 10%) |
| Estructura del goniómetro | Muestra horizontal θs - θd |
| Radio de círculo de difracción | 150mm |
| Rango de medición | - 3° ~ 150° cuando θs/θd está conectado |
| θ - velocidad de exploración continua del eje | 0,125 - 30°/min |
| Modo de trabajo | Fotografía segmentada/fija |
| Ángulo de paso mínimo | 0,0001° |
| 2θ repetibilidad del ángulo | ≤±0,001° |
| Precisión de medición | ≤±0,02° |
| Detector | Detector de recuento de fotones con forma de arco |
| Tamaño de píxel | 70×70μm² |
| Tasa de recuento lineal máxima | 3×1000000cps/pixel |
| Resolución de energía | 380eV |
| Estabilidad integral del instrumento | ≤0,2% |
| Medición de radiación dispersa | Protección de plomo + vidrio de plomo, bloqueo de puerta - máquina, ≤0.2μSv/h. |
| Dimensiones generales del host | 770×520×880mm |
