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Proveedor Auditado XRF-T6 de la directiva RoHS de escritorio de la máquina de pruebas de los elementos peligrosos
Usos de la industria
La energía dispersiva de rayos X del Espectrómetro de fluorescencia, XRF para abreviar, es un método de análisis elemental de física, que tiene ventajas técnicas especiales como rápido, no destructiva, análisis simultáneo de varios elementos, y de bajo costo de análisis de. Se utiliza en electrónica de la RoHS, electrodomésticos, joyas, juguetes, ropa, cuero, etc. , alimentos, materiales de construcción, metalurgia, la geología y minería, plásticos, el petróleo, química, farmacéutica y otras industrias son ampliamente utilizados.
XRF-T6 puede corresponder a la IEC62321 para la detección de sustancias peligrosas en productos electrónicos y eléctricos, ASTM F963-11 para ropa y calzado, juguete En-71, etc..
La energía dispersiva de rayos X del Espectrómetro de fluorescencia, XRF para abreviar, es un método de análisis elemental de física, que tiene ventajas técnicas especiales como rápido, no destructiva, análisis simultáneo de varios elementos, y de bajo costo de análisis de. Se utiliza en electrónica de la RoHS, electrodomésticos, joyas, juguetes, ropa, cuero, etc. , alimentos, materiales de construcción, metalurgia, la geología y minería, plásticos, el petróleo, química, farmacéutica y otras industrias son ampliamente utilizados.
XRF-T6 puede corresponder a la IEC62321 para la detección de sustancias peligrosas en productos electrónicos y eléctricos, ASTM F963-11 para ropa y calzado, juguete En-71, etc..
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Nombre
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El parámetro
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La gama Mearuing :
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De P-U U-elementos
Regulada de la RoHS elemento dañino Pb / Hg / CD / Cr / halógena br + Aleación: aleación de cobre, hierro, níquel aleaciones, aleación de estaño, la aleación de titanio, metales preciosos Revestimiento: Ag / Sn / Au / Ni-Cu, Cr / Zn / NI / Ag / -Fe |
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Tipo de muestra:
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Sólida (plating), líquido (componente)
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El tiempo de prueba
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60S-200s (Ajuste automático de Software)
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El sistema de posicionamiento de la cámara:
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True HD de 5 millones de píxeles del sistema de posicionamiento
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Tubo de rayos X
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Modelo: KEW
Lugar de producción: Shanghai Material: la ventana de berilio metálico La vida de servicio: más de 20000 horas |
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El detector
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Modelo: X55
Fabricante: American Amptek SI refrigeración eléctrica detector de polos Resolución: 135ev de ± 5 El espesor de la ventana de berilio de 1mil. |
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Fuente de alimentación de alta tensión
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Modelo: X3513
Fabricante: Xiangyang Westman 0-50kev, 0-2 mA como máximo 50W |
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Medidas de protección de alta tensión
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Protección contra sobretensión, auto-recuperación
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Equipo Industrial integrado:
(El equipo todo-en-uno) |
2G de memoria, de 1,6 g de CPU de doble núcleo
Sistema operativo: Windows7 (no hay un ordenador externo requerido) |
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Temperatura de trabajo:
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Temperatura: 15-30 ºC; humedad: ≤ 75% (sin condensación)
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Alimentación de entrada.
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AC 220V±15%,50Hz
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Tamaño del instrumento
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450(L)×410×400(W)(h)
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Muestra el tamaño de la cavidad
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350×300(L)(W)×100(H)
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El estándar de protección de radiación
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Mucho mayor que la norma nacional GB18871-2002 GBZ115-2002
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Proveedores con licencias comerciales verificadas
Proveedor Auditado 
