• Precisa de la industria electrónica de semiconductores líder del equipo de prueba de medida de origen instrumento medidor fabricado en China
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Precisa de la industria electrónica de semiconductores líder del equipo de prueba de medida de origen instrumento medidor fabricado en China

After-sales Service: 1 Year
Warranty: 1 Year
fuente de alimentación: Ac 100~240V 50/60 Hz
puerto de comunicación: RS-232,Gpib, Ethernet
entorno de trabajo: 25±10ºc.
Paquete de Transporte: 1PCS/Box

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Proveedores con licencias comerciales verificadas

Fabricante/Fábrica

Información Básica.

No. de Modelo.
CS200-1003C/1010C
Especificación
354mm x 482mm x552mm
Marca Comercial
Precise
Origen
China
Capacidad de Producción
5000

Descripción de Producto

Introducción
 Plug-in precisa máquina  adopta un marco personalizado, tablero de ancho de banda de bus hasta 3Gbps, 16 de bus de disparo, para satisfacer las necesidades de comunicación de alta velocidad de la tarjeta de múltiples dispositivos.
 Con el fin de satisfacer las diferentes necesidades de los clientes para el número de sub-cartas, dos máquina host(1003C y 1010C) se han lanzado. 1003C puede albergar hasta 3 sub-tarjetas, y 1010C puede albergar hasta 10 sub-cards.También se han desarrollado cuatro sub tarjetas (CS100, CS200, CS300 y CS400) para los usuarios configurar flexiblemente las diferentes sub-tarjetas según sus requisitos de rendimiento y funcionales  para lograr un óptimo rentable proximidad.


Características
Bus de disparo canal flexible  
Alta eficiencia de la combinación de múltiples tarjetas
Hasta 40 canales de la configuración
Alta precisión en el 0,1%
La operación de cuatro cuadrantes, Rango: 10pA~1A , 30 uV~300V
Varias interfaces de comunicación RS-232/GPIB/LAN

 
Precise Leading Semiconductor Electronic Industry Test Equipment Source Measure Meter Instrument Made in China

Máquina host
El modelo 1003C 1010C
No.de ranuras 3 ranuras 10 ranuras
El puerto de comunicaciones RS-232,GPIB, Ethernet RS-232,GPIB, Ethernet
Fuente de alimentación AC 100~240V 50/60 Hz max  power 500W AC 100~240V 50/60 Hz max  power 500W
El ambiente de trabajo 25±10°C. 25±10°C.
El tamaño 178mm x 482mm x 552mm   178mm x 482m × 552mm  
La garantía 1 año 1 año

La Sub-card
El modelo CS200
 de canales El canal 1
La potencia de salida máx. 30W, en el cuadrante 4 Modo de origen o de la hidracina
El límite de la fuente ±30 V (≤1 un rango), ±105mA (≤100V gama)
Fuente actual  ±1,05 (≤30V gama), ±105mA (≤100V gama)  
Por encima del rango  105%, fuente y medida
La estabilidad de la capacitancia de carga  <22nF
El ruido de banda ancha (20MHz). 2mV rms , <20mV Vp-p
La tensión de protección de cables Impedancia de salida de 1K Ω, desplazamiento de la tensión de salida <10 mV
Frecuencia de muestreo máx. Muestra 1000 S/.
La garantía 1 año
Tabla de cuadrante Precise Leading Semiconductor Electronic Industry Test Equipment Source Measure Meter Instrument Made in China

La precisión de tensión y corriente: modelos diferentes tienen diferentes rangos de tensión y corriente, por favor, consulte la guía de selección ).
La tensión Fuente Medir
Gama La resolución La precisión±(%rdg.+V). La resolución La precisión±(%rdg.+V).
300 mV 30 uV El 0,1%±300uV 30 uV El 0,1%±300uV
3V 300uV El 0,1%±500 uV 300uV El 0,1%±500 uV
30V 3mV El 0,1%±3mV 3mV El 0,1%±3mV
100V 10mV El 0,1%±30 mV 10mV El 0,1%±30 mV
Actual Fuente Medir
Gama La resolución La precisión±(%rdg.+A) La resolución La precisión±(%rdg.+A)
100nA 10pA El 0,1%±0.5nA 10pA El 0,1%±0.5nA
1uA 100 pA El 0,1%±3nA 100 pA El 0,1%±3nA
10 uA 1nA El 0,1%±5 nA 1nA El 0,1%±5 nA
100 uA 10nA El 0,1%±50 nA 10nA El 0,1%±50 nA
1mA 100nA El 0,1%±300nA 100nA El 0,1%±300nA
10 mA 1uA El 0,1%±5 uA 1uA El 0,1%±5 uA
100mA 10 uA El 0,1%±20AU 10 uA El 0,1%±20AU
1A 100 uA El 0,1%±2 mA 100 uA El 0,1%±2 mA

Aplicaciones

1.Nano las propiedades del material de prueba: El grafeno, nanocables, etc
2.Organic las propiedades del material de prueba: tinta electrónica, la impresión de la tecnología electrónica, etc.
3.La energía y eficiencia de prueba características: LED/AMOLED, células solares, baterías, convertidores CC a CC, etc
4.Dispositivos semiconductores discretos de prueba características: resistencia, diodo, diodos emisores de luz, diodos Zener, el diodo PIN, transistor BJT, MOSFET, SIC, etc
5.X-ray característica del sensor de prueba, la resistividad, de efecto Hall, e

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