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Siguiendo la filosofía de la exploración continua y autotrascendente para MSS, nace el nuevo microscopio metalúrgico SY61N para investigación con una serie de funciones y apariencia de diseño pioneras, para proporcionar una solución de detección perfectoy desarrollar un nuevo patrón de campo industrial.
Cabezal de visualización con relación de división múltiple
El cabezal de visualización SY61N está diseñado con múltiples opciones para la relación de división. Con el sistema de imágenes widebeam, 26,5mm super ancho archivo de visión está disponible.
Cabeza trinocular con imagen erecta, relación de división Binocular:trinocular= 100:0 o 0:100.la dirección de movimiento de las muestras es la misma que la observada.
Cabeza trinocular con imagen invertida, relación de división Binocular: Trinocular=100:0 o 20:80or 0:100. Excepto para concentrar 100% de luz al tubo ocular o al tubo de la cámara, es otra opción con 20% de luz al tubo ocular y 80% al tubo de la cámara, por lo que la observación del ocular y la salida de la imagen pueden estar disponibles al mismo tiempo.
Sistema de polarización
El polarizador y analizador en el sistema de polarización contribuyen a eliminar la luz parásita semiconductor y detección de PCB, imagen con claro detalle es alcanzable. Son un analizador fijo y un analizador giratorio opcional. La muestra puede observaren diferentes ángulos de polarización con el analizador 360.rotable. Además, este sistema de polarización puede ser actualizado a Nomarski diferencial interferencia de contraste sistema después de instalar un nuevo desarrollado accesorio de DIC.
Sistema de contraste diferencial de interferencia Nomarski
Las asperezas de la superficie que no se pueden encontrar en el campo brillante, pueden detectarse mediante el uso de la conexión U-DICR para crear un fondo de alto contraste. Se utiliza ampliamente para probar la partícula conductora de LCD, superficie rayada de preciondisk.
Enlace entre el filtro de densidad neutra y el interruptor de BF Y DF
La palanca situada delante del iluminador se utiliza para cambiar entre el campo brillante y el campo oscuro,y está en tándem con un filtro de densidad neutra (ND61). Cuando cambia de DF a BF, el filtro ND61 incorporado toma el papel de disminuir la intensidad de la luz. Más científificay más cómodo.
Nosopieces opcionales
El ángulo incluido entre el eje óptico y el eje de rotación de la pieza nasal mltiple se reduce a 15°. Es útil mejorar la precisión del centrado y el enfoque. Sevenobjetivos como mucho pueden ser reunidos al mismo tiempo. Se pueden lograr aumentos continuos y razonables de baja a alta.
Diseño ergonómico
La intensidad puede ajustarse de forma flexible mediante el dispositivo de atenuación que se encuentra en el lado derecho del bastidor. El voltaje cambia todas las pantallas digitales. Ajustar la intensidad y el enfoque coaxialal mismo tiempo, mejora la eficiencia del trabajo.
La iluminación reflejada o transmitida se puede activar con el botón de la pantalla de atenuación digital. Usando el botón DE REAJUSTE para mantener la intensidad de luz en alrededor de 8V (con una Marca de cámara en la pantalla de atenuación) que es un voltaje óptimo para la fotomicrografía.cuatro portafiltros integrados con tres filtros estándar, un soporte vacío para opciónfiltro. Todos los filtros se pueden mover fuera de la trayectoria óptica tirando de la palanca.
Sistema de enfoque coaxial de posición baja con ajuste de tensión. El rango grueso is25mm y la precisión fina es 0,001mm. La altura de una pequeña muestra, como la bola de soldadura, puede medirse.
Etapa con ajuste a la derecha
Platina mecánica de doble capa de 4 pulgadas, con dispositivo de bloqueo para limitar el movimiento del eje Y. Itis ampliamente utilizado en la detección horizontal para evitar la falta.
Placa de vidrio acoplable para la luz transmitida.
Iluminador transmitido y reflejado
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