Medidor de espesor de revestimiento totalmente automático/analizador de espesor de revestimiento XRF con Zoom Y enfoque
1.Introducción del producto:
El calibrador de espesor espectral LR-1610D puede analizar la solución de chapado mientras analiza el espesor de varios revestimientos.es aplicable a piezas supergrandes, piezas de ranura heterosexual, pruebas multipuntos micro intensivas o detección automática de un gran número de partes pequeñas una por una, como placas de circuito impreso (PCB), soportes de plomo, productos sanitarios, etc.
2.función
Plataforma automática programable de desplazamiento automático, desatendida, detección automática de muestras;la detección de alta eficiencia de cientos de puntos de muestra se puede realizar con un programa Búsqueda inteligente automática de imágenes al de Intelligent Realizar, y archivos de programa para que coincidan automáticamente con las posiciones de prueba. Tiene ventajas obvias frente a las pruebas de grandes cantidades de muestras similares. En línea de acuerdo con las necesidades del cliente, la inspección en línea de la línea de producción puede personalizarse para proporcionar una solución general para la inspección en línea para la Industria 4,0, mejorar la eficiencia de la inspección y realizar la fábrica inteligente automática.
Medidor de espesor de revestimiento totalmente automático/analizador de espesor de revestimiento XRF con Zoom Y enfoque
3.characteristic
1.fiabilidad de alto rendimiento Alta precisión y estabilidad de las pruebas, reducción de residuos y eliminación de tiempo muerto, al tiempo que proporciona una alta calidad
2.actualización rentable del proceso de fabricación, más rentable, lo que ahorra mucho en costes de uso
3.Tecnología de detección avanzada sistema de trayectoria óptica vertical altamente integrado, utilizando tecnología avanzada de análisis de espectro y algoritmo de reconocimiento de imagen, realiza una detección precisa, rápida, inteligentand automática para satisfacer a los endeados de las empresas
4.Longerservice Life Diseño modular, centrado en el ahorro de energía, y equipado con modo de reposo automático para ampliar la vida útil
5.algoritmo de EFP de núcleo el algoritmo avanzado de EFP no es sólo una precisión para pruebas multicapa y conveniente para la calibración, sino que también resuelve los problemas de detección de la capa de coatingy penetración repetitiva de varios elementos, superiores y inferiores
6.dispositivo integrado de cuatro enfoques equipado con tecnología fourfocal altamente integrada, puede medir la altura y la altura delsurco con una profundidad máxima de of90mm
7.medición óptica arriba-abajo la división de la gestión entre los ordenadores superior e inferior permite una medición rápida, precisa, estable y eficiente depiezas de trabajo supergrandes
8.fuerte aplicabilidad medir con precisión elespesor de varios recubrimientos metálicos y analizar la solución de chapado
Medidor de espesor de revestimiento totalmente automático/analizador de espesor de revestimiento XRF con Zoom Y enfoque
Modelo
Elementos |
XD-1000 |
Configuración del producto |
R |
B |
C |
Análisis de elementos |
CL(17)-U(92) |
S(16)/al(13)-U(92) |
Análisis de espesor-ElementoAnálisis |
CL(17)/li(3)-U(92) |
L(3)-U(92) |
Algoritmo EFP |
estándar |
Capacidad de análisis de espesor y elementos |
Análisis simultáneo de
5 recubrimientos y 10 elementos |
Análisis simultáneo de 23 recubrimientos y 24elements |
Detección de la misma
elementen diferentes capas |
estándar |
Software |
Software fácil de usar, fácil de usar, sistema de autodiagnóstico |
Tubo de rayos X. |
Microfocenciatubo de rayos X. |
Microfocusingrealzado
Tubo de rayos X. |
Colimador |
φ0.2mm
φ0.5mm,(uno de dos) |
φ0.2mm
(φ0.1mmCan elegido) |
Estándar;φ0.2mm;
φ0.5mmφ0.3mmφ0.2mm
φ0.1mm*φ0.3mm
Se puede seleccionar |
Punto de enfoque micro |
Difusividad de puntos 10% (en distancia de medición normal) |
Medición de la distancia |
Función de corrección de distancia, la muestra de distancia diferenciapuede probarse en la misma condición de prueba,
0-90mm medición de la distancia |
Observación de muestras |
2,7/1"colorCCD,con función de zoom |
Modo de enfoque |
Lente de alta sensibilidad, enfoque manual |
Ampliación |
Óptico 38-46x, amplificación digital 40-200 veces |
Detector |
Contador proporcional de alta eficiencia |
Estándar: detector de semiconductores de si-PIN(el SDD puede ser opcional) |
Movimiento de plataforma |
Control manual |
Fase XY de alta precisión automática |
Control manual |
Dimensión |
550mm*760mm*635mm |
Zmovingrange |
|
145mm |
|
XY rango móvil |
100mm*150mm |
210mm*230mm |
100mm*150mm |
Peso |
100KG |
120KG |
100KG |
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