Microscopio Electrónico de Barrido X1000000

Detalles de Producto
Personalización: Disponible
Aumento: 20x~150, 000x
Tipo: Video
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Información Básica.

No. de Modelo.
DJ-SEM150
Número de cilindros
microscopio electrónico de barrido
Movilidad
Sobremesa
Efecto estereoscópico
Efecto estereoscópico
Tipo de fuente de luz
Ultraviolet
Forma
Lente en Forma de Tambor
Uso
Investigación
Principio
Óptico
Principio de Óptica
Microscopio de polarización
nombre del producto
dj-sem150 microscopio electrónico de barrido
resolución
5nm (30kv, imagen de se)
tensión de aceleración
1kv a 30kv (30kv -6/5kv/10kv/15kv/20kv/1kv paso)
detector
detector se, detector bse opcional, eds, etc.
cruce de etapas
sistema de 5 ejes o control automático
desplazamiento de imagen
desplazamiento de imagen x, desplazamiento de imagen y (±150um)
Paquete de Transporte
caja de madera
Especificación
460(w)*600(l)*950(h)mm
Marca Comercial
dr. j científico
Origen
Jiangsu Wuxi
Código del HS
9011800090
Capacidad de Producción
60

Descripción de Producto

Introducción general:
El máximo de ampliación de la DJ-SEM150 series sem es de 150.000 veces, y la resolución es de hasta 5nm (sí, de 30kV). Está equipado con secundaria SE (electrones) detector y la EEB (backscattered electrón) detector. La plataforma de carga puede ser configurado con tres ejes (X, Y, R). Manual de la plataforma también puede ser ampliado a cinco ejes (X, Y, R Z, T) automática de la plataforma. El analizador de espectro de EDS puede configurarse en todas las series de productos. Los productos incluyen las siguientes configuraciones:
 
El tema El modelo Con el detector opción Con la opción de etapa
Mini-SEM DJ-SEM150 DJ-SEM150S DJ-SEM150S-MS
DJ-SEM150D DJ-SEM150D-MS
DJ-SEM150D-ST
Scanning Electron Microscope X1000000
 
Descripción:
(1) Ampliación máxima de 150.000x
(2): Detección de la señal del detector Detector de la EEB se +
(3) Tensión de aceleración:1kV a 30kV, imágenes de alta resolución, imágenes de alta resolución.
(4) equipado con 4 diafragmas del iris (30, 50, 50 y 100 μm), que puede proporcionar imágenes de alta resolución cambiando el tamaño del haz de electrones.
(5) EDS es opcional, para el análisis de componentes
(6) El CCD de exploración de la muestra es opcional.
(7) Etapa de la inclinación de la configuración (0~90°) (opcional).

Especificaciones:
La resolución 5NM (30kV,SE).
La ampliación 20x~150.000x
Tensión de aceleración 1~30kV
El detector SE Detector, detector de EEB opcional, EDS, etc..
Cañón de electrones Cartucho de filamento de tungsteno centrado Pre
Sistema de lente La lente de enfoque:2 etapas de la lente condensador electromagnético
Objetivo: 1-etapa Objetivo electromagnético
Etapa Sistema de 3 ejes, X, eje : 35mm / R-eje: 360°
Eje opcional de 5 etapas de la muestra: X:40mm, y:z:40mm, 40mm, R:360°, T:0~90°
 Cambio de imágenes  El desplazamiento de imagen X, Y el  desplazamiento de imagen (±150 um)
Los diafragmas de iris Los diafragmas de iris regulable(30/50/50/100μm)
Tamaño de muestra de máx. 80mm de diámetro, 35mm de altura
Sistema de escaneado de imágenes  Análisis rápido:320*240  lenta Exploración: 640*480
 El modo foto 1:1280*960    Modo Foto 2:2560*1920, el   modo Foto 3:5120*3840
Función automática El inicio automático, el enfoque automático,Auto Brillo/Contraste
Formato de imagen BMP, JPEG, PNG, TIFF
Visualización de datos de la imagen La ampliación,tipo de detector de tensión de aceleración, el modo de vacío,Logo(Texto), fecha y hora en el marcador,texto,barra de escala
Sistema de vacío. Modo de alto vacío, la bomba mecánica molecular, la bomba, aspirando el tiempo: dentro de 3 minutos
Volumen del dispositivo 460(W)*600*950(L)(H)mm
Entorno del equipo Temperatura:15º~30ºC , la humedad:70% o menos
Fuente de alimentación:monofásico  100~240V AC, 1KW, 50/60Hz


Embalaje y envío
Scanning Electron Microscope X1000000
Scanning Electron Microscope X1000000
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