• Microscopio Electrónico de Barrido Eco Sem
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Microscopio Electrónico de Barrido Eco Sem

Aumento: 20X~150, 000X
Tipo: Video
Número de cilindros: Scanning Electron Microscope
Movilidad: Sobremesa
Efecto estereoscópico: Efecto estereoscópico
Tipo de fuente de luz: Ultraviolet

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Miembro Diamante Desde 2015

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Jiangsu, China
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Información Básica.

No. de Modelo.
DJ-SEM150
Forma
Lente en Forma de Tambor
Uso
Investigación
Principio
Óptico
Principio de Óptica
Microscopio de polarización
nombre del producto
dj-sem150 microscopio electrónico de barrido
resolución
5nm (30kv, imagen de se)
tensión de aceleración
1kv a 30kv (30kv -6/5kv/10kv/15kv/20kv/1kv paso)
detector
detector se, detector bse opcional, eds, etc.
cruce de etapas
sistema de 5 ejes o control automático
desplazamiento de imagen
desplazamiento de imagen x, desplazamiento de imagen y (±150um)
Paquete de Transporte
Wooden Case
Especificación
460(W)*600(L)*950(H)mm
Marca Comercial
Dr. J Scientific
Origen
Jiangsu Wuxi
Código del HS
9011800090
Capacidad de Producción
60

Descripción de Producto

Introducción general:
El máximo de ampliación de la DJ-SEM150 series sem es 150.000 veces, y la resolución es de hasta 5nm (sí, de 30kV). Está equipado con secundaria SE (electrones) detector y la EEB (backscattered detector de electrones). La plataforma de carga puede ser configurado con tres ejes (X, Y, R). Manual de la plataforma también puede ser actualizado a cinco ejes (X, Y, R Z, T) automática de la plataforma. El analizador de espectro de EDS puede configurarse en todas las series de productos. Los productos incluyen las siguientes configuraciones:
 
El tema El modelo Con el detector opción Con la opción de etapa
Mini-SEM DJ-SEM150 DJ-SEM150S DJ-SEM150S-MS
DJ-SEM150D DJ-SEM150D-MS
DJ-SEM150D-ST
Scanning Electron Microscope Eco Sem
 
Descripción:
(1) Ampliación máxima de 150.000x
(2): Detección de señal se + Detector Detector de EEB
(3) Tensión de aceleración:1kV a 30kV, imágenes de alta resolución, alta resolución de imagen.
(4) equipado con 4 diafragmas del iris (30, 50, 50 y 100 μm), que puede proporcionar imágenes de alta resolución cambiando el tamaño del haz de electrones.
(5) EDS es opcional, para el análisis de componentes
(6) El CCD de exploración de la muestra es opcional.
(7) Configuración de la etapa de inclinación (0~90°) (opcional).

Especificaciones:
La resolución 5NM (30kV,SE).
La ampliación 20x~150.000x
Tensión de aceleración 1~30kV
El detector SE Detector, detector de EEB opcional, EDS, etc..
Cañón de electrones Cartucho de filamento de tungsteno centrado Pre
Sistema de lente La lente de enfoque:2 etapas lente condensador electromagnético
Objetivo: etapa 1 Objetivo electromagnético
Etapa Sistema de 3 ejes, X, eje : 35mm / R-eje: 360°
Opcional etapa de la muestra de 5 ejes: X:40mm, y:z:40mm, 40mm, R:360°, T:0~90°
 Cambio de imágenes  El desplazamiento de imagen X, Y el  desplazamiento de imagen (±150 um)
Los diafragmas de iris Los diafragmas de iris regulable(30/50/50/100μm)
Tamaño de muestra de máx. 80mm de diámetro 35mm de altura
Sistema de escaneado de imágenes  Análisis rápido:320*240  Slow Scan: 640*480
 El modo foto 1:1280*960    Modo Foto 2:2560*1920  Foto Modo 3:5120*3840
Función automática El inicio automático, el enfoque automático,Auto Brillo/Contraste
Formato de imagen BMP, JPEG, PNG, TIFF
Visualización de datos de la imagen La ampliación,tipo de detector de tensión de aceleración, el modo de vacío,Logo(Texto), fecha y hora en el marcador,texto,barra de escala
Sistema de vacío. Modo de alto vacío, mecánica molecular, bomba de aspiración, bomba de tiempo: dentro de 3 minutos
Volumen del dispositivo 460(W)(L)*600*950(H)mm
Entorno de equipo Temperatura:15º~30ºC , la humedad: 70% o menos
Fuente de alimentación:monofásico  100~240V AC, 1KW, 50/60Hz


Embalaje y envío
Scanning Electron Microscope Eco Sem
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Año de Establecimiento
2007-10-16
Certificación del Sistema de Gestión
ISO9001:2015