JB-EDX8300H Espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB-EDX8300H absorbe todas las ventajas de la serie EDX y está además equipada con sistema de vacío, de modo que se amplía el ámbito de las pruebas, mejora el límite de detección y mejora la estabilidad de los datos.
Características del producto
1. El proyecto de detector de silicio importado de América con mayor resolución de la energía en gran medida mejora la detección.
2. Límite de elementos de la luz que es 100 veces superior al de la is polos detector. El alcance de medición es más amplio que casi puede satisfacer requisitos de análisis de elementos de todos los materiales convencionales.
3. Sistema de procesamiento de la integración de datos importados de Estados Unidos hace que la adquisición de datos más rápido, la medición más estable con una excelente repetibilidad y la estabilidad de largo tiempo.
4. Hasta la fecha de la imagen de software de integración de múltiples métodos de medición computering hace que los datos más precisos y estable.
5. Completo software supervisa la ejecución de las principales partes garantiza un funcionamiento seguro.
6. Sistema de vacío especializados ofrece mejor rendimiento de vacío y excelentes resultados de pruebas.
| Parámetro técnico |
| Elementos analizable |
Na-U. |
| La gama analizable |
1PPm-99.99% |
| El tiempo de medición |
100-300s ajustable |
| RoHS elementos nocivos, Límite máx. |
Unidad de CD/Pb/CR/HG/br/2PPM |
| La resolución de la energía |
149±5 eV |
| La temperatura |
15-30C |
| Fuente de alimentación |
220V±5V el estabilizador de CA opcional aconseja |
Proveedor Auditado 
