Equipo de Pruebas Inteligente de Chip de Memoria Flash

Detalles de Producto
Personalización: Disponible
Fuente de alimentación: av 220v
Proceso de dar un título: CE, ISO
Miembro Diamante Desde 2011

Proveedores con licencias comerciales verificadas

Proveedor Auditado Proveedor Auditado

Auditado por una agencia de inspección externa independiente

Certificación del Sistema de Gestión
ISO 9001
Disponibilidad de OEM/ODM
Yes
  • Equipo de Pruebas Inteligente de Chip de Memoria Flash
Buscar productos similares

Información Básica.

No. de Modelo.
HD-N8-NAND
Garantía
1 año
tamaño del equipo
w400*h510*d520mm
voltaje admitido
soporte de hardware v1,2, v1,8 opcional
rango de humedad de funcionamiento
45%~75%
consumo de energía normal de trabajo
2kw
Paquete de Transporte
caja de madera fuerte
Especificación
w400*h510*d520mm
Marca Comercial
haida
Origen
China
Capacidad de Producción
300pieces/mes

Descripción de Producto

Sistema de prueba inteligente de chip de memoria Flash

Descripción del producto:
  1. El sistema Smart Test YC-N8-NAND es un completo sistema de prueba de memoria flash que puede personalizarse para probar hasta 8 partículas de flash en paralelo.
  2. Soporta una amplia gama de patrones de prueba y parámetros de prueba personalizados. Proporciona un flujo de prueba básico de un clic, una prueba experimental muy flexible y un flujo de prueba avanzado, y puede proporcionar un flujo de prueba básico de un clic, una prueba experimental muy flexible y un flujo de prueba avanzado, que puede realizar varias pruebas funcionales como la predicción de la vida restante, la prueba real, la retención de datos y la alteración de lectura de las partículas de memoria flash. El informe de la prueba se puede exportar rápida y fácilmente después de la finalización de la prueba. Proporciona los datos de prueba gráficos más intuitivos para proporcionar la referencia más precisa para la clasificación y aplicación de partículas de flash. También proporciona la referencia más precisa para la clasificación y aplicación de partículas de flash y permite la clasificación inteligente basada en los resultados de las pruebas de calidad de partículas de flash.

Especificaciones del producto:
  1. Probado por JEDEC Stand no 218: Solid State Technology Association B-2016 Solid-State Drive (SSD) Requirements and Endurance Test Motho;
  2. Base de prueba según la norma JEDEC no 47 NVCE: Solid State Technology Association Stress-TestDriven Calificación de circuitos integrados;
  3. Especificaciones de diseño de la placa de prueba para cumplir con los requisitos ambientales de temperatura de prueba de grado industrial;

Especificaciones técnicas:
Propiedades físicas
Tamaño del equipo W400×H510×D520mm
Método de alimentación AC
Rango de tensión de funcionamiento AC(220±10%)V monofásico 2 hilos + tierra de protección
Consumo de energía normal de trabajo 2KW
Rango de temperatura de funcionamiento -30ºC~150ºC.
Rango de temperatura de almacenamiento  -20ºC~60ºC.
Rango de humedad de funcionamiento  45%~75%
Rendimiento del sistema
Número de partículas que pueden probarse en paralelo 1~8 pcs
Marcas flash compatibles para pruebas SLC, MLC, TLC, Sandisk, etc. de Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk, Etc, QLC tipo NAND partículas de chip Flash (el rango se está ampliando)
Tamaños de paquete admitidos BGA152, BGA132 (extensiones personalizadas disponibles)
Tipos de protocolo Flash admitidos ONFI/alternancia de partículas de interfaz
Voltaje admitido Soporte de hardware V1,2, v1,8 opcional
Rango de tensión de desconexión admitido El soporte de software puede ser ajustado vcc2,3~3,6
vccq1,2 1,15~1,25
vccq1,8 1,70~1,95
Admite rangos de prueba opcionales Ajustes individuales para el número de bloques de inicio, intervalo entre bloques, número de ciclos, tiempo de prueba, etc.
Patrón de soporte Todos los 0, todos los 1, todos los 5, pseudo-al azar, rejilla de tablero de ajedrez, línea de palabras aleatoria, etc.
Compatibilidad con tipos de comandos de prueba Inspección de información de memoria Flash
Prueba de rendimiento de memoria Flash
Pruebas de vida y predicción
Clasificación de la clase de calidad
Prueba de interferencias de datos
Prueba de retención de datos
Funcionalidad de lectura y reintento
Pruebas y predicción de por vida
Personalización de ECC
Velocidad de prueba paralela Como ejemplo de una prueba de larga duración de la base de pélets de wellington:
Modo equilibrado: 128GB * 8 pellets aprox. 1 horas
Modo completo: 128GB*8 pellets aprox. 2 horas
Modo de alta velocidad: 128GB*8 pellets aprox. 20 minutos
Módulo de prueba inteligente Pruebas básicas
Pruebas experimentales
Pruebas avanzadas

 Nuestra empresa Introducción:
HAIDA INTERNATIONAL es un fabricante profesional de varios tipos de equipos de prueba durante 24 años. LOS productos HAIDA se utilizan ampliamente en productos de papel, embalaje, impresión de tinta, cintas adhesivas, bolsas, calzado, productos de cuero, medio ambiente, juguetes, productos para bebés, hardware, productos electrónicos, productos plásticos, productos de caucho y otras industrias, y aplicable a todas las unidades de investigación científica, instituciones de inspección de calidad y campos académicos.
Flash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test EquipmentFlash Memory Chip Intelligent Test Equipment

Enviar directamente tu consulta a este proveedor

*De:
*A:
*Mensaje:

Pone entre 20 y 4000 caracteres.

Esto no es lo que buscas? Publique Solicitud de Compra Ahora
Contactar al Proveedor
Grupos de Producto
Más