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Has acelerada de la cámara de pruebas de estrés de semiconductores

After-sales Service: 24 Hours on Line Services
Power Supply: 220V
Certification: CE, ISO
Warranty: 1 Year
diámetro: 350/550mm
profundidad: 450/650mm

Contactar al Proveedor

Fabricante/Fábrica & Empresa Comercial

Tour Virtual 360 °

Miembro Diamante Desde 2013

Proveedores con licencias comerciales verificadas

Guangdong, China
Elección de compradores con alta repetición
Más del 50% de los compradores eligen repetidamente al proveedor
Capacidades de I+D
El proveedor cuenta con 21 ingenieros de I+D, puedes consultar el Audit Report para más información
Certificación de Gestión
El proveedor cuenta con certificación del sistema de gestión de calidad, que incluye:
ISO9001:2015 certificate
ISO14001
ISO45001:2018 certificate
Certificación de Producto
Los productos del proveedor ya cuentan con calificaciones de certificación relevantes, que incluyen:
CE
para ver todas las etiquetas de fortaleza verificadas (27)
  • Visión General
  • Descripción del producto
  • Parámetros del producto
  • La aplicación del producto
  • Perfil de empresa
  • El embalaje y envío
Visión General

Información Básica.

No. de Modelo.
HAST
rango de temperatura
+105 ºc~+135 ºc
rango de humedad (control de saturación)
65% hr a 100%
rango de humedad(control de saturación )
100% hr
tiempo de presurización
presión normal ~200kpa en 20 min
Paquete de Transporte
Strong Plywood Case, Meet International Standards
Especificación
Standard and Customized available
Marca Comercial
KOMEG
Origen
Dongguan, China
Código del HS
90321000
Capacidad de Producción
1000 Sets Per Year

Descripción de Producto


Has acelerada de la cámara de pruebas de estrés de semiconductores

 
Descripción del producto


Has Cámara, también conocido como prueba de esfuerzo acelerada de cámara, se integra a la alta temperatura, humedad alta y alta presión. Este nuevo diseño de la cámara has es un nuevo producto lanzado oficialmente por KOMEG en 2023.  

Menor tamaño
Diseño de seguros
Reducir el tiempo de prueba
Microchip de prueba semiconductores
Cumple con varias normas de ensayo
Disponible en diferentes capacidades
Aceptar la personalización

 
Parámetros del producto
Modelo No. KM HAS-35 KM HAS-55
El tamaño interior (mm) De diámetro Φ) 350 550
La profundidad(D) 450 650
El tamaño exterior (mm) Width(W). 730 1150
Height(H) 1630 1550
La profundidad(D) 1100 1400
El rango de temperatura  +105ºC~+135º C.
Rango de humedad El 65%HR a 100%(Unsaturation control).
100%RH (control de saturación ).
El rango de presión 0.05~0.3MPa
Manómetro: +0.2~200kPa
La presión absoluta: 100 ~ 300kPa
Fluctuaciones de temperatura ±  0,5°C
Uniformidad de temperatura   3,0°C
Desviación de la temperatura   ±3,0°C
Fluctuaciones de humedad ±3,0% de HR
La desviación de la humedad ± 5.0% de HR
La desviación de la presión   ±2kPa
La tasa de calentamiento   De ±25ºC~+135ºC dentro de los 45 minutos
(Promedio en todo el proceso) ( nada,no hay calefacción).
La presurización del tiempo La presión normal ~200 kPa dentro de 20 minutos.
Fuente de alimentación  220V AC 1Ø 50Hz
El ruido ≤68dB (1 metros de distancia de la puerta)
Dispositivo de protección de seguridad NFB(ningún fusible interruptor), el exceso de presión, más calor y el exceso de corriente protectores para el compresor, exceso de temperatura protectores, sobrecarga protector del ventilador, protector de calor seco,protector de la escasez de agua
 
La aplicación del producto

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Perfil de empresa


Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

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El embalaje y envío

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

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