FM-Nanoview tocando el alto costo-eficiencia Microscopio de Fuerza Atómica
FM-Nanoview 1000 flyingman Microscopio de Fuerza Atómica de AFM.
descripción de producto
Características de I.
1. Cabezal de exploración y la etapa de la muestra se diseñan , fuerte rendimiento antivibración
2. Precisión láser y de la sonda de detección de dispositivos de alineación láser de hacer el ajuste simple y fácil.
3. Adaptar el servomotor para impulsar la muestra se acercan a sugerencia de forma manual o automáticamente, para darse cuenta de escaneo de precisión de posicionamiento de la zona.
4. Alta precisión y gran variedad de dispositivos de transferencia de muestras permite capturar cualquier zona interesante de la muestra .
5. Sistema de observación óptica para la comprobación de la punta y un ejemplo de posicionamiento.
6. Sistema electrónico se ha diseñado como modular y fácil para el mantenimiento y desarrollo .
7. La adopción de la primavera para el aislamiento de vibraciones, simple y buen rendimiento.
II. Software
1. Dos tipos de muestreo píxel para elegir: de 256×256, 512×512.
2. Ejecutar el área de captura se mueven y función de cortar, elija una interesante zona de la muestra.
3. La muestra aleatoria de captura en ángulo desde el comienzo.
4. Ajustar el punto de láser sistema de detección en tiempo real.
5. Elegir y configurar diferentes color de la imagen capturada en la paleta.
6. Lineales de apoyo a la media y la calibración de compensación en tiempo real de la muestra de título.
7. El apoyo de la sensibilidad del escáner y controlador electrónico de calibración la calibración automática.
8. El apoyo análisis offline y el proceso de imagen de muestra.
parametros de producto
III. Parámetros técnicos principales
| El tema |
Datos técnicos |
El tema |
Datos técnicos |
| Modos de funcionamiento |
Modo de contacto, el modo de fricción, extendió los modos de grabación, fase, MFM, EFM. |
El ángulo de lectura |
Azar |
| El tamaño de muestra |
Φ≤90mm,H≤20mm |
El movimiento de la muestra |
0~20mm |
| Gama de análisis de Max. |
X/Y: 20 um, Z: 2 um |
El ancho de pulso de enfocar el motor |
10±2 ms |
| La resolución |
X/Y: 0,2 Nm, Z: 0,05nm |
Sistema óptico |
Ampliación: 4X, de resolución: 2.5 um |
| Velocidad de lectura |
0.6Hz~4,34Hz |
Los puntos de datos |
256,512×256×512 |
| Control de análisis |
XY: 18-bit D/A, Z: 16-bit D/A. |
Tipo de comentarios |
Comentarios digital DSP |
| Muestreo de datos |
Uno de 14 bits A/D y el doble de 16 bits A/D de varios canales simultáneamente |
| La conexión de PC |
Usb 2.0 |
Frecuencia de muestreo de comentarios |
64.0KHz. |
| Windows |
Compatible con Windows98/2000/XP/7/8 |
FSM construido en 2013. En los últimos 9 años, nos hemos concentrado en hacer de los instrumentos de laboratorios y fábricas.
Proporcionamos microscopio de fuerza atómica para la educación física y wifer normal de la inspección.
Es la mejor relación costo AFM.
Fotos detalladas
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Proveedor Auditado 
