Microscopio de la fuerza atómica para el tipo de industria de Wafer Descripción del producto I. Características El primer microscopio industrial de gran escala de la fuerza atómica en China a. lograr la producción comercial ·El tamaño y el peso de la muestra son casi ilimitados, por lo que resulta especialmente adecuado para probar muestras grandes como obleas, rejillas ultra grandes y vidrio óptico ·La plataforma de muestras tiene una gran capacidad de ampliación y es muy conveniente para la combinación de instrumentos múltiples para lograr la detección in situ ·Escaneo automático con un solo clic, capaz de programar varios puntos de prueba para una detección rápida y automatizada ·Mantenga la muestra inmóvil mientras explora la imagen y conduzca la sonda para realizar la adquisición de imágenes de medición de movimiento XYZ 3D ·Diseño del cabezal de exploración del gantry, base de mármol, etapa de adsorción por vacío ·Soluciones integradas de amortiguación mecánica de vibraciones y protección del ruido ambiental en gran medida reduzca los niveles de ruido del sistema ·Método de inserción de aguja inteligente y rápido para la detección automática de cerámicas piezoeléctricas bajo control de motor, protegiendo sondas y muestras ·Editor de usuario de corrección no lineal de escáner, con caracterización nano y precisión de medición superior al 98% II Software 1. Dos tipos de píxeles de muestreo para elegir: 256×256, 512×512; 2. Ejecutar la función de movimiento y corte del área de exploración, elegir cualquier área interesante de la muestra; 3. Escanear la muestra en ángulo aleatorio al principio; 4. Ajustar el sistema de detección de puntos láser en tiempo real; 5. Elegir y establecer un color diferente de la imagen escaneada en la paleta. 6 . Soportar la calibración lineal de promedio y offset en tiempo real para el título de la muestra; 7 . Admitir la calibración de sensibilidad del escáner y la calibración automática del controlador electrónico; 8 . Apoyar el análisis y el proceso fuera de línea de la imagen de muestra. Parámetros del producto
| Modo de trabajo |
Modo de contacto, modo de pulsación |
Z Mesa de elevación |
Control de accionamiento del motor paso a paso con un tamaño de paso mínimo de 10nm |
| Modo opcional |
Fuerza de fricción/fuerza lateral, amplitud/fase, fuerza magnética/fuerza electrostática |
Z recorrido de elevación |
20mm (opcional 25mm) |
| Curva de espectro de fuerza |
Curva de fuerza F-Z, curva RMS-Z. |
Posicionamiento óptico |
10x objetivo óptico |
| Método de exploración XYZ |
Exploración XYZ guiada por sonda |
Cámara |
CMOS digital de 5 megapíxeles |
| Rango de exploración XY |
Mayor que 100um×100um |
Velocidad de adquisición |
0,6Hz~30Hz |
| Ángulo de exploración Z. |
Mayor que 10um |
Ángulo de exploración |
0~360° |
| Resolución de escaneo |
Horizontal 0,2nm, vertical 0,05nm |
Entorno operativo |
Windows 10 sistema operativo |
| XY Etapa de muestra |
Control de accionamiento del motor paso a paso, con una precisión de movimiento de 1um |
Interfaz de comunicación |
USB2,0/3,0 |
| XY Movimiento de desplazamiento |
200×200mm (opcional 300×300mm) |
Estructura del instrumento |
Cabezal de exploración del gantry, base de mármol |
| Plataforma de carga de muestras |
Dia 200mm (opcional 300mm) |
Método de amortiguación |
Cubierta de protección acústica de absorción de impactos flotante (plataforma de absorción de impactos activa opcional) |
| Peso de la muestra |
≤20Kg |
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III Principales parámetros técnicos FSM construido en 2013. En los últimos 9 años, nos concentramos en fabricar instrumentos para laboratorios y fábricas. Proporcionamos un microscopio de fuerza atómica para la educación física normal y la inspección de los fafles. Es la mejor relación costo-costo AFM. Fotos detalladas ¿por qué elegirnos? 1.más de muchos años de experiencia en producción y servicio. 2.Somos fabricante que puede darle un precio preferencial 3.ISO9001 certificado. 4.garantía de servicio posventa de por vida. 5.Servicio OEM disponible. 6 . Inspección de calidad estricta antes del envío.
Proveedor Auditado 
