Sistema AFM de barrido de oblea de Advanced Semiconductor

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Magnification: >1000X
• Type: Video
• Number of Cylinder: Binoculars
• Mobility: Desktop
• No. de Modelo.: LS AFM
• Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
• Kind of Light Source: Ordinary Light
• Shape: Single-lens
• Usage: Teaching
• Principle: Optics
• Principle of Optics: Polarizing Microscope
• tamaño de la muestra: φ≤90mm,h≤20mm
• rango de exploración máx: X/Y: 20 Um, Z: 2 Um
• resolución: x/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• velocidad de adquisición: 0,6hz~4,34hz
• tipo de comentario: respuesta digital dsp
• conexión a pc: usb2,0
• ventanas: compatible con windows98/2000/xp/7/8
• ángulo de exploración: aleatorio
• movimiento de la muestra: 0~20mm
• puntos de datos: 256×256.512×512
• Paquete de Transporte: Carton and Wooden
• Especificación: 55 lbs
• Marca Comercial: flyingman
• Origen: China
• Código del HS: 9011800090
• Capacidad de Producción: 100pieces/Month

Descripción de Producto

Sistema AFM de barrido de oblea de Advanced Semiconductor

Explore el análisis de semiconductores a nanoescala con nuestro escáner AFM de alta resolución. Perfecto para la cartografía de la topografía de las obleas y la detección de defectos.

Descripción del producto

Características del microscopio de la Fuerza Atómica

Características

El primer microscopio industrial de gran escala de la fuerza atómica en China a. lograr la producción comercial

• El tamaño y el peso de la muestra son casi ilimitados, por lo que resulta especialmente adecuado para probar muestras grandes como obleas, rejillas ultra grandes y vidrio óptico


• La plataforma de muestras tiene una gran capacidad de ampliación y es muy conveniente para la combinación de instrumentos múltiples para lograr la detección in situ


• Escaneo automático con un solo clic, capaz de programar varios puntos de prueba para una detección rápida y automatizada


• Mantenga la muestra inmóvil mientras explora la imagen y conduzca la sonda para realizar la adquisición de imágenes de medición de movimiento XYZ 3D


• Diseño del cabezal de exploración del gantry, base de mármol, etapa de adsorción por vacío


• Soluciones integradas de amortiguación mecánica de vibraciones y protección del ruido ambiental en gran medida reduzca los niveles de ruido del sistema


• Método de inserción de aguja inteligente y rápido para la detección automática de cerámicas piezoeléctricas bajo control de motor, protegiendo sondas y muestras


• Editor de usuario de corrección no lineal de escáner, con caracterización nano y precisión de medición superior al 98%

Software

1. Dos tipos de píxeles de muestreo para elegir: 256×256, 512×512


2. Ejecute la función de movimiento y corte del área de exploración, elija cualquier área interesante de la muestra


3. Escanee la muestra en ángulo aleatorio al principio


4. Ajuste el sistema de detección de puntos láser en tiempo real


5. Elija y defina un color diferente de la imagen de escaneo en la paleta


6. Soporte de media lineal y calibración de offset en tiempo real para título de la muestra


7. Admite la calibración de sensibilidad del escáner y la calibración automática del controlador electrónico


8. Soporte de análisis y proceso fuera de línea de imagen de muestra

Nombre de la empresa: Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

 
 

Parámetros del producto

Modo de trabajo	Modo de contacto, modo de pulsación	Z Mesa de elevación	Control de accionamiento del motor paso a paso con un tamaño de paso mínimo de 10nm
Modo opcional	Fuerza de fricción/fuerza lateral, amplitud/fase, fuerza magnética/fuerza electrostática	Z recorrido de elevación	20mm (opcional 25mm)
Curva de espectro de fuerza	Curva de fuerza F-Z, curva RMS-Z.	Posicionamiento óptico	10x objetivo óptico
Método de exploración XYZ	Exploración XYZ guiada por sonda	Cámara	CMOS digital de 5 megapíxeles
Rango de exploración XY	Mayor que 100um×100um	Velocidad de adquisición	0,6Hz~30Hz
Ángulo de exploración Z.	Mayor que 10um	Ángulo de exploración	0~360°
Resolución de escaneo	Horizontal 0,2nm, vertical 0,05nm	Entorno operativo	Windows 10 sistema operativo
XY Etapa de muestra	Control de accionamiento del motor paso a paso, con una precisión de movimiento de 1um	Interfaz de comunicación	USB2,0/3,0
XY Movimiento de desplazamiento	200×200mm (opcional 300×300mm)	Estructura del instrumento	Cabezal de exploración del gantry, base de mármol
Plataforma de carga de muestras	Dia 200mm (opcional 300mm)	Método de amortiguación	Cubierta de protección acústica de absorción de impactos flotante (plataforma de absorción de impactos activa opcional)
Peso de la muestra	≤20Kg

Parámetros técnicos principales

Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. (FSM) se estableció en 2013, especializándose en la producción de instrumentos de alta calidad para laboratorios y fábricas. Con un enfoque en la innovación y la precisión, FSM ofrece un microscopio de fuerza atómica diseñado para fines educativos y para la inspección de obleas.

El microscopio de fuerza atómica FSM cuenta con la mejor relación de costo del mercado, proporcionando un valor excepcional para los usuarios que buscan mediciones precisas y fiables en sus procesos de investigación y fabricación.

 

Fotos detalladas