Fuente de alimentación dc programable multicanal de alta precisión serie N23010 Para pruebas de semiconductores

• After-sales Service: 1 Years Warranty
• Warranty: 1 Years
• rango de tensión: 0~15V
• rango de corriente: 0~5A
• pantalla: pantalla lcd
• interfaz: puerto lan, interfaz rs232
• No. de Modelo.: N23010
• protocolo: protocolo scpi
• fuente de alimentación de ca: monofásica 100~240v ac, frecuencia 47hz~63hz
• aplicación: para completar htol, ltol, elfr/efr, hast, thb, etc..
• Paquete de Transporte: Carton
• Especificación: 132.5mm(H)*482mm(W)*559mm(D)
• Marca Comercial: NGI
• Origen: China
• Código del HS: 9030849000
• Capacidad de Producción: 50000/Year

Descripción de Producto

La serie N23010 es una fuente de alimentación dc programable de varios canales y alta precisión desarrollada especialmente para la industria de semiconductores, que puede proporcionar alta precisión, estable y pura potencia para chips, y cooperar con la cámara de prueba ambiental para una serie de pruebas de fiabilidad ambiental. Su precisión de tensión de hasta el 0,01%, admite medición de corriente de nivel de μA, hasta 24 canales para una sola unidad, admite control local/remoto (LAN/RS232/CAN) para satisfacer las necesidades de pruebas automáticas de lotes de chips.

Características principales

Precisión de tensión 0,6mV

Estabilidad a largo plazo 80ppm/1000h

Hasta 24 canales para una sola unidad

Ruido de rizado de tensión ≤2mVrms

Chasis estándar de 19 pulgadas 3U

Desarrollado para la industria de semiconductores

Campos de aplicación

PARA COMPLETAR HTOL, LTOL, ELFR/EFR, HAST, THB, Etc., y apoyar la prueba de medición de corriente de fuga de viruta dentro de la cámara de prueba ambiental.

Funciones y ventajas

La precisión y estabilidad garantizan la fiabilidad de las pruebas

La prueba de fiabilidad suele requerir que varios chips funcionen durante mucho tiempo bajo la fuente de alimentación. Tomemos como ejemplo la HTOL, el número de muestras es de al menos 231 piezas y el tiempo de prueba es de hasta 1000 horas. N23010 precisión de tensión es 0,6mV, estabilidad a largo plazo 80ppm/1000h, ruido de rizado de tensión ≤2mVrms puede garantizar eficazmente la fiabilidad del proceso de prueba del usuario protección en todo el recorrido, garantizar la seguridad de los instrumentos y productos bajo prueba.

Integración ultra alta, lo que ahorra inversión de usuario

En el proceso de I+D de viruta, hoja de flujo y producción en masa. Normalmente es necesario realizar pruebas de fiabilidad en múltiples grupos de muestras. Además, la corriente de fuga de la viruta o la placa unida es también un índice de prueba importante. El esquema tradicional generalmente adopta múltiples fuentes de energía lineales con muestreo de datos, lo que es problemático para conectar y ocupa espacio de prueba. El N23010 integra hasta 24 canales de alimentación en un chasis de 19 pulgadas 3U para admitir la medición de corriente de nivel μA, proporcionando una solución altamente integrada para la prueba de chips a gran escala.

Respuesta dinámica rápida

N23010 proporciona una capacidad de respuesta dinámica rápida, bajo la salida de tensión completa, la carga cambia de 10% a 90%, la recuperación de tensión a la reducción de tensión original en 50mV tiempo es menor que 200μs, puede asegurar que la tensión o la corriente de subida de forma de onda dentro de alta velocidad y sin sobreimpulso, y puede proporcionar una fuente de alimentación estable para el chip que se está probando.

Edición de secuencias

N23010 admite la función de edición de secuencias. Los usuarios pueden establecer la tensión de salida, la corriente de salida y el tiempo de funcionamiento de paso único. 100 grupos de secuencias de tensión y corriente pueden personalizarse localmente.

Varias interfaces de comunicación, cumplen con el requisito de la prueba automática

Compatible con RS232, LAN, PUERTO CAN, conveniente para los usuarios para crear un sistema de prueba automática