• Análisis de la estructura de cristal de la máquina Xrd Deaktop Analizadores de difracción de rayos x
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Análisis de la estructura de cristal de la máquina Xrd Deaktop Analizadores de difracción de rayos x

After-sales Service: Provided
Warranty: 1 Year
Portátil: No portátil
Formar: Desktop
Solicitud: Industrial
Escribe: Detector de alta definición de industria de rayos X

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Proveedores con licencias comerciales verificadas

Clasificación: 5.0/5
Fabricante/Fábrica, Empresa Comercial
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Visión General

Información Básica.

No. de Modelo.
DW-XRD-Y3000
Certificación
CE
Personalizado
No Personalizado
Forma de Alarma
Alarma de Pantalla
características
sistema de medición de ángulo de difracción de alta precisión
potencia nominal
3kw
voltaje del tubo
10-60kv
corriente del tubo
5-80ma
tamaño del foco
1*10mm o 0,4*14mm o 2*12mm
estabilidad
<0,01%
estructura del goniómetro
horizontal (0-2 0)
radio de difracción
185mm
rango de exploración
0-164
Paquete de Transporte
Standard Export Wooden Packaging
Especificación
1100*850*1750mm
Marca Comercial
Drawell
Origen
China
Código del HS
8419200000
Capacidad de Producción
500PCS/Month

Descripción de Producto

descripción de producto
DW-XRD-S3000 El modelo de instrumento de difracción de rayos X
S3000 Series diffractometer está diseñado para los materiales reserarch y análisis de productos industriales. Es la perfecta combinación de análisis convencional con productos de medida de propósito especial.
♦ Características principales
1. La combinación perfecta de los sistemas de hardware y software satisfaga las necesidades de los académicos e investigadores en diferentes áreas de aplicación
2. Difracción de alta precisión del sistema de medición de ángulos obtiene unos resultados más precisos
3. Alta estabilidad de la generador de rayos X del sistema de control se vuelve más estable de precisión de la repetibilidad
4. Operación programable, diseño de la estructura integrada, un funcionamiento sencillo, elegante outlook

Difracción de rayos X (DRX) es un versátil instrumento de prueba para revelar la estructura cristalina y la información química:
1. Las muestras de desconocido en una variedad de identificación de la fase
2. Las muestras de mezclado con conocimiento de Análisis de fase cuantitativa
3. Análisis de la estructura de cristal
4. Los cambios de estructura de cristal bajo condiciones no convencionales (alta temperatura, condiciones de baja temperatura)
5. Análisis sobre la superficie de material film
6. Análisis de la textura de metal y el estrés


♦ parámetro técnica
El modelo XRD-S3000.
La potencia nominal 3kW
Tensión del tubo 10-60kV
La corriente del tubo 5-80mA
Mesa de rayos X. El tubo de vidrio, cerámica de tubo, tubo de cerámica de onda: Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc, de 2 kW de potencia
Tamaño de la Focus 1 x 10mm o 0,4 x 14mm o 2 x 12mm
La estabilidad <0,01%
Estructura goniómetro Horizontal (0-2 0)
Radio de la difracción 185mm
Gama de escaneado 0-164
La velocidad de escaneo 0,0012°-70° min
Max velocidad rotatoria. 100°/min.
Análisis de la moda 0-20 el varillaje, 0,20 solo la acción; de forma continua o análisis paso a paso
 
El ángulo de precisión repetible. 1/1000°
Ángulo de paso mínima 1/1000°
El detector Los contadores proporcionales(PC) o los contadores de centelleo(SC).
Relación de la resolución de la energía <25% (PC),<50% (SC).
El recuento de la moda Coeficiente diferencial o integral, PHAautomatically, tiempos muertos regular
La estabilidad del sistema de medida <0,01%
Dosis de rayos dispersos W1 Sv/h (sin el dispositivo de protección de rayos X)
Instrumento de Estabilidad integrativa <0,5%
El tamaño de la figura 1100 x 850 x 1750 mm
 
Fotos detalladas
Crystal Structure Analysis Machine Xrd Analyzers Deaktop X-ray Diffraction 

 

Certificaciones
 

Crystal Structure Analysis Machine Xrd Analyzers Deaktop X-ray Diffraction

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Preguntas frecuentes

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Certificación del Sistema de Gestión
ISO 9001
Año de Exportación
2014-03-18