Laboratorio de Análisis de Estructura Cristalina de Metal Catalizador Difractómetro de Rayos X

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ISO 9001
Año de Exportación
2014-03-18
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Información Básica.

No. de Modelo.
DW-XRD-2700A
Portátil
No portátil
Formar
escritorio
Solicitud
Industrial
Escribe
Detector de alta definición de industria de rayos X
Certificación
CE
Personalizado
No Personalizado
Forma de Alarma
Alarma de Pantalla
potencia nominal
3kw (tecnología de control hf, hv)
voltaje del tubo
10-60kv
corriente del tubo
5-50ma
tamaño del foco
1 x 10 mm o 0,4 x 14 mm o 2 x 12 mm
estabilidad
<0.005%
Paquete de Transporte
embalaje de madera estándar de exportación
Especificación
1000*800*1600mm
Marca Comercial
dray
Origen
China
Código del HS
8419200000
Capacidad de Producción
500pcs/mes

Descripción de Producto

descripción de producto
Multifuncional combinado XRD DW-XRD-2700A
 
 
Parámetros
 
El nombre del producto Multi-funcional combinado X-ray Diffractometer
Modelo No. DW-XRD-2700A
La potencia nominal 3kW(HF,tecnología de control de la HV)
Tensión del tubo 10-60kV
La corriente del tubo De 5-50 mA
Tubo de rayos X. El tubo de metal cerámica / material objetivo: Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc / Alimentación:2.4kW
Tamaño de la Focus 1x10mm ó 0.4x14mm  o 2x12mm
La estabilidad ≤ 0.005%
 Estructura goniómetro   Nivel de muestra (θ-θ)  
 Radio de la difracción    225mm(o personalizados a pedido:150-285mmrange)  
 2θ del rango de lectura    -6~160°(θs:-3~80° θd:-3~80°)  
 La velocidad de escaneo    0,0012°-50°/min.  
 La velocidad de posicionamiento de ángulo    1500°/min.  
 Análisis de la moda    Θs/θd dlinkage/acción individual; Continua, versión y OMG  
 El ángulo de precisión repetible.    1/10000°  
 2θ linealidad angular    Muestra de estándar internacional(Si,AI203),el ángulo de desviación de todos los picos en espectro no son más de ±0,02°  
 El detector    Los contadores proporcionales(PC) o el contador de centelleo(SC), detector de deriva de silicio (SDD),unidimensional de alta velocidad detector de la matriz de semiconductores  
 Relación de la resolución de la energía    ≤25%(PC,matriz unidimensional)≤50%(SC),≤200eV(SDD)  
 El recuento de la moda    Coeficiente diferencial o integral, la PHA automáticamente, tiempos muertos regular  
 La estabilidad del sistema de medida    ≤0,01%  
 La dosis de rayos dispersos    ≤1 μSv/h (sin el dispositivo de protección de rayos X)  
 La estabilidad de integración de instrumentos    ≤ 0,1%  
 El tamaño de la figura    1000 x 800 x 1600  
 
Fotos detalladas
Catalyst Metal Crystal Structure Analysis Laboratory Xrd X Ray DiffractometerCatalyst Metal Crystal Structure Analysis Laboratory Xrd X Ray DiffractometerCatalyst Metal Crystal Structure Analysis Laboratory Xrd X Ray DiffractometerCatalyst Metal Crystal Structure Analysis Laboratory Xrd X Ray Diffractometer

 

Certificaciones
 

Catalyst Metal Crystal Structure Analysis Laboratory Xrd X Ray Diffractometer

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Preguntas frecuentes

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