Instrumentos de medición de la pérdida de núcleo de hierro(TP-2100M)
Medición automática de la histéresis magnética dinámica y orientada hacia el aro de acero al silicio no orientado bajo la condición de 45Hz~1kHz, la medición precisa de los parámetros característicos magnéticos estáticos como amplitud permeabilidad μa, la pérdida el ángulo δ, pérdida total PS, la remanencia Br y coercitividad HC. Con el aparejo de las pruebas especiales, se puede medir directamente el acero al silicio, permalloy, amorfa y nm crystal stator transformador de Core y Core .
Software de medición de Windows aplica simplemente. El producto cumple las normas nacionales de China GB/T de 3655-2000, GB/T 13789-92 y la norma internacional IEC 404-2, IEC 60404-3, IEC 60404-6.
El control de equipo y la toma de muestras A/D de sustituir el puente de analógico tradicional, el medidor de frecuencia, amperímetro, medidor de tensión, el medidor de potencia, todo el proceso de prueba automática completa.
Características generales
--- Muestra Pruebas variedades: la laminación en caliente, la laminación en frío , permalloy materiales de acero de silicio amorfo y nm crystal.
--- La prueba de las formas de muestra: el anillo, CD,Rect,EE y EI cierre de las muestras.
--- Ejemplos de circuito abierto adoptar Epstein Square para formar circuito magnético cerrado, también puede seleccionar la muestra de acero de silicio permeameter, tales como la MT30mm x 300mm, MT500mm x 500mm ...
--- El cierre de la muestra se puede poner directamente a la medición de bobinado del transformador, acabó también puede ser sometida a la medición directa.
--- Muestra ( núcleo de hierro), magnetizar la bobina (N1) y la medición de la bobina (N2) forman un transformador sin carga.
--- Fuente de alimentación y el amplificador de muestreo de poner en un chasis que hacen que la interfaz muy simple: una interfaz RS232 conectar al ordenador, la segunda señal de voltaje CONECTARSE A/D de alta velocidad de la tarjeta.
--- Adoptar volammetry y la integración digital para medir la histéresis dinámico bucle, se puede medir con precisión dinámica característica magnética parámetros tales como μa, δ, Ps, Br y HC, etc..
--- La medición continua y automática de hasta 255 puntos de comprobación, el tiempo de pruebas de cada punto de prueba es de unos 5 segundos, la frecuencia de fijo, fijo fijo o Bm Hm multipunto opcional en la prueba.
--- Potente función de la técnica de software, la solicitud a la prueba personal es muy baja.
--- Salida es de onda sinusoidal, distorsiones de salida es muy baja y nada que ver con la carga, asegurar la exactitud de la prueba de ello.
Pantalla de software
--- U/I/B de la forma de onda de muestreo
--- B(H) bucle histéresis
--- B(H) del ciclo de histéresis magnética cluster
Las especificaciones del sistema
Debajo de 50Hz Frecuencia,uso 25cm Epstein escuadra para medir acero al silicio sampie(1kg), los índices de técnica de la siguiente manera( temperatura constante):
Parámetros medidos |
Bm(%) |
Hm(%) |
Ua(%) |
Ps(%) |
Δ(%) |
Uncertainnty(k=2) |
1.0 |
1.0 |
2.0 |
1.0 |
2.0 |
Repetibilidad. |
±0.5 |
±0.5 |
±1.0 |
±0.5 |
±1.0 |
Especificación de instrumentos
El modelo |
TP-2100M-500 |
TP-2100M-1000 |
TP-2100M-2000 |
Fuente de alimentación |
220V ± 10%, 5A, 50Hz |
220V ± 10%, 10A, 50Hz |
220V ± 10%, 20A, 50Hz |
La potencia de salida |
500 VA. |
1000VA |
2000VA |
Generación de señal |
Síntesis de frecuencia digital DDS , de 16 bits bipolar convertidor D/A |
El rango de frecuencia |
40 Hz ~ 1.000 Hz, frecuencia finura: 1 Hz de frecuencia, Error: < ±0,05% |
El voltaje de salida |
0~10~50~150~300V (rms) cuatro rangos de voltaje automático, Error: < ±0,2% |
Corriente de salida |
0~30~300~3000~30.000mA (pico), cuatro rangos automáticos Error: < ±0,2% |
Convertidor A/D. |
De doble canal de 1MHz 16bit del convertidor de analógico a digital |
Bloqueo de la BM |
±0,3% |
±0,3% |
±0,3% |
Medición de la BM |
± 0,2%(+0,1% * (Vf/VR-1)) |
± 0,2%(+0,1% * (Vf/VR-1)) |
± 0,2%(+0,1% * (Vf/VR-1)) |
Bloqueo de la HM |
±0,5% |
±0,5% |
±0,5% |
Medición de la HM |
±(0,2%+0,1%×(Si/Ir-1)) |
±(0,2%+0,1%×(Si/Ir-1)) |
±(0,2%+0,1%×(Si/Ir-1)) |
Medición de la ps |
±(1.0+ (Φ/90°)×0,05×tan(Φ)% |