FM-Nanoview GOLPETEANDO todo- en -un microscopio de fuerza atómica AFM
FM-Nanoview 1000 Flyingman AFM microscopio de la Fuerza Atómica
descripción de producto
I. Características
1. El cabezal de exploración y la plataforma de muestras están diseñados juntos, con un fuerte rendimiento antivibración
2. El dispositivo de detección láser de precisión y alineación de la sonda hacen que el ajuste del láser sea sencillo y sencillo;
3. Adapte el servomotor para conducir la muestra acercándose a la punta de forma manual o automática , para lograr una posición precisa del área de exploración.
4. Dispositivo de transferencia de muestras de alta precisión y gran alcance que permite explorar cualquier área interesante de la muestra ;
5 . Sistema de observación óptica para la comprobación de la punta y la colocación de la muestra.
6. El sistema electrónico está diseñado como modular y fácil para el mantenimiento y desarrollo posterior.
7 . Adoptar un resorte para el aislamiento de vibraciones, simple y buen rendimiento.
II Software
1. Dos tipos de píxeles de muestreo para elegir: 256×256, 512×512;
2. Ejecutar la función de movimiento y corte del área de exploración, elegir cualquier área interesante de la muestra;
3. Escanear la muestra en ángulo aleatorio al principio;
4. Ajustar el sistema de detección de puntos láser en tiempo real;
5. Elegir y establecer un color diferente de la imagen escaneada en la paleta.
6 . Soportar la calibración lineal de promedio y offset en tiempo real para el título de la muestra;
7 . Admitir la calibración de sensibilidad del escáner y la calibración automática del controlador electrónico;
8 . Apoyar el análisis y el proceso fuera de línea de la imagen de muestra.
parametros de producto
III Principales parámetros técnicos
| Elemento |
Datos técnicos |
Elemento |
Datos técnicos |
| Modos de funcionamiento |
Modo de contacto, modo de fricción, modos extendidos de roscar, fase, MFM, EFM. |
Ángulo de exploración |
Aleatorio |
| Tamaño de la muestra |
φ≤90mm,H≤20mm |
Movimiento de la muestra |
0~20mm |
| Rango de exploración máx |
X/y: 20 um, Z: 2 um |
Ancho de pulso del motor que se aproxima |
10±2ms |
| Resolución |
X/y: 0,2 nm, Z: 0,05nm |
Sistema óptico |
Ampliación: 4x, resolución: 2,5 um |
| Velocidad de adquisición |
0,6Hz~4,34Hz |
Puntos de datos |
256×256.512×512 |
| Control de escaneo |
XY: D/A DE 18 BITS, Z: D/A DE 16 BITS |
Tipo de comentario |
Respuesta digital DSP |
| Muestreo de datos |
Un CANAL MÚLTIPLE A/D de 14 bits y DOBLE A/D de 16 bits simultáneamente |
| Conexión a PC |
USB2,0 |
Velocidad de muestreo de retroalimentación |
64,0KHz |
| Ventanas |
Compatible con Windows98/2000/XP/7/8 |
FSM construido en 2013. En los últimos 9 años, nos concentramos en fabricar instrumentos para laboratorios y fábricas.
Proporcionamos un microscopio de fuerza atómica para la educación física normal y la inspección de los fafles.
Es la mejor relación costo-costo AFM.
Fotos detalladas
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